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泰勒表面粗糙度儀Surtronic 25 操作手冊 TAYLOR HOBSON25粗糙度儀是泰勒公司在原來TAYLOR HOBSON 3＋粗糙度儀的基礎(chǔ)上進行改進的一個新產(chǎn)品，該儀器適用于生產(chǎn)現(xiàn)場，可測量多種機加工零件的表面粗糙度，根據(jù)選定的測量條件計算相應(yīng)的參數(shù)，在液晶顯示器上清晰地顯示出全部測量參數(shù)。

泰勒霍普森白光干涉儀CCI MP 無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對非常粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產(chǎn)運營或研究項目時刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展

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Taylor Hobson Surtronic DUO 精密金屬加工市場和涉及高容差工程產(chǎn)品制造商的其他行業(yè)計量系統(tǒng)制造商。 系統(tǒng)包括廣泛的圓度和幾何測量儀器，用于測量圓度，直線度，平行度，圓柱度，同心度和方形度。 表面處理，表格和輪廓分析儀，三維表面紋理分析和便攜式粗糙度測試儀，用于測量多個表面紋理參數(shù)。

Talysurf CCI Lite全自動光學(xué)3D形貌測量儀 The Talysurf CCI Lite 是一臺良好的光學(xué)干涉 儀，它采用了創(chuàng)新的，**的相關(guān)相干算法， 去尋找通過光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致 點與相位The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量 而言是無價的，通過采用不同的物鏡頭，可 以檢測不同的表面，全自動的工作臺能適應(yīng) 高水平的靈活應(yīng)用。