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QNIX覆層測(cè)厚儀QNix8500

更新時(shí)間：2024-05-27
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QNIX覆層測(cè)厚儀QNix8500
QNix8500覆層測(cè)厚儀Fe質(zhì)探針可檢測(cè)所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。
NFe質(zhì)探針檢測(cè)所有絕緣涂層厚度，例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。

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品牌	Qnix/德國(guó)尼克斯	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,交通,航天,汽車,電氣

QNIX覆層測(cè)厚儀QNix8500

覆層材料中的鐵磁成分和導(dǎo)電成分：磁性法測(cè)厚儀會(huì)受基體金屬磁性變化的影響。為了避免受到熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)測(cè)厚儀經(jīng)行校準(zhǔn)，也可以用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

QNix8500覆層測(cè)厚儀Fe質(zhì)探針可檢測(cè)所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。
NFe質(zhì)探針檢測(cè)所有絕緣涂層厚度，例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。

QNix 8500覆層測(cè)厚儀獲得多項(xiàng)和質(zhì)量認(rèn)證。
DIN 50981，50984
ISO 2178，2360，2808
BS 5411（3，11），3900 （c，5）
ASTM B499，D1400
QNIX覆層測(cè)厚儀QNix8500

涂鍍層測(cè)厚儀的產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：
•　只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)
•　測(cè)量精度高
•　一體分體通用
•　可配多種探頭
•　中英文菜單操作
•　智能化
•　帶存儲(chǔ)，并可連計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析
•　可連接薄鍍層探頭，對(duì)極薄的鍍層厚度測(cè)量，誤差小于±3um

尼克斯8500涂層測(cè)厚儀可選探頭：

•　Fe鐵基探頭： 0－2000μm 0－5000μm
•　NFe非鐵基探頭: 0－2000μm 0－5000μm
•　NFe/Fe兩用探頭：0－2000μm 0－5000μm
•　無(wú)線傳輸探頭
•　薄鍍層探頭
•　露點(diǎn)儀探頭